静的画像解析

はじめに

粒子径と形状の正確な測定は、製造工程と製品品質の両方に影響するため、実際の製品アプリケーションにとって重要です。画像分析は、静的光散乱法、沈降法、ふるい分け法などの他の方法と比較して、各粒子画像を迅速に分析して粒子径と形状を決定できるという点で大きな利点があります。静的画像分析法（SIA）を使用する場合、粒子はキャリア上に置かれ、カメラに対して静止したままです。

メリット

撮影中、サンプルは静止したままであるため、高画質と豊かなディテールが保証されます。高い精度と再現性により、SIAは特に分布の狭い小粒子の特性評価に適しています。SIAの特徴は以下の通りです：

1.粒子の高解像度で鮮明な画像

2.アンダーサイズの粒子感度

3.少量のサンプル

測定原理

SIAによる粒子形状・粒子径測定の4ステップ：

1.画像撮影

鮮明な画像を得るために、特殊なデジタルカメラを通常顕微鏡と組み合わせて使用する。粒子はニュートラルな状態（対物レンズ上など）で存在し、ドライモード（例えば、単に搬送してリドリングする、または圧縮空気を使用する）と溶媒中のウェットモードの両方で分散（分離）させることができる。

2.画像処理と粒子識別

適切なソフトウェア処理により、孤立画素や縁取り粒子の除去、輝度や信号ノイズのばらつきのレタッチ、凝集粒子の分離を実現し、画像を向上させる。

3.粒子サイズと形状パラメータの計算

各粒子のサイズと形状パラメータはソフトウェアで計算されます。

4.データ統計と分類

粒子はそのサイズと形状パラメータに基づいて分類されます。

申し込み

SIAは、高解像度で鮮明な微粒子の画像を生成します。そのため、特に鉱物、電池、電子機器、医薬品の用途に適しており、粒子の形状やサイズに関する統計データにより、使用中の材料をさらに区別することができます。

補足情報

粒子形状の詳細な説明はこちらをご覧ください。