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DLS後方散乱光検出技術のご紹介

ナノ粒子の粒子径分布は、動的光散乱（DLS）で測定できます。

ナノ粒子によって散乱された光は、さまざまな角度で検出されます。

入射レーザービームに向かって戻ってきた光は、「後方散乱」または「後方角度」と呼ばれます。

このビデオでは、DLS後方散乱技術について知っておくべきことをすべてご紹介します。

BettersizeのアプリケーションエンジニアであるZhibin Guoが、

DLS後方散乱光検出技術の概要とナノ粒子径測定の特徴や利点について説明します。

Bettersize社のBeNanoシリーズは、3つの角度（12°、90°、173°）から測定できるため、幅広い粒子サンプルの分析が可能です。

BeNanoナノ粒子径・ゼータ電位測定装置を選ぶ理由

- 動的光散乱法による粒子径測定

- 電気泳動光散乱法によるゼータ電位測定

- 静的光散乱法による分子量測定

- DLSマイクロレオロジーによるレオロジー特性の測定

メリット

- 後方散乱光検出技術により感度アップ

- 電気泳動移動度の低いサンプル向けのPALS技術

- pHトレンド測定用BAT-1自動滴定装置（オプション）