粒子径分布測定の手法とそのメリットとデメリットの解説
2023-07-13WIKI
レーザー回折・散乱法 | 利点:使いやすい、迅速な分析、広範囲な測定レンジ、高い再現性と精度、湿式/乾式/オンライン/少量サンプルの測定が可能 |
短所:ピークが接近した二峰性分布の分解能が低い、ナノ粒子には不向き。 | |
静的画像解析法 | 利点:形態分析、費用対効果、画像が鮮明。 |
短所:小さな粒子(<2μm)には不向き、操作が複雑、分析速度が遅い。 | |
動的画像解析法 | 利点:形態分析、操作が簡単、分析速度が速い、再現性と精度が高い、大きな粒子に適している。 |
短所:小さな粒子(<2μm)には不向き、代表性はサンプリングに影響される。 | |
動的光散乱法 | 利点:測定範囲が広い、分析が速い、使いやすい、ナノ粒子に最適。 |
短所:粒度分布の広い粒子では測定誤差が生じる可能性がある。 | |
重力沈降式 | 利点:連続測定、費用対効果、広い測定範囲。 |
短所:測定時間が長い、非球状粒子のサイズが小さい、1μm未満の粒子では不正確。 | |
ふるい分け法 | 利点:使用が簡単、費用対効果に優れる。 |
不利な点:小さな粒子(<38μm)には不向き、測定結果はオペレーターの方法に大きく左右される、ふるいの目開きは時間とともに劣化する、<100μmの粒子では測定時間が長い。 | |
コールターカウンター法 | 利点: 粒子計数のため、二峰性分布のピークの分解能が高い、分析が速い、再現性が良い、細胞分析に適している。 |
短所:小さな粒子や粒度分布の広い粒子には不向き、異なるサイズの粒子の測定にはアパーチャーを変える必要がある、メンテナンスが簡単ではない、定期的な校正が必要。 | |
走査型電子顕微鏡 | 利点:超微粒子の正確なサイズ分析、表面テクスチャーのある粒子の鮮明な画像、高分解能、ナノ粒子の特性を評価する標準的な手法。 |
短所:代表性が低い、装置が非常に高価。 | |
遮光法 | 利点:粒子計数、高速分析、液体や気体中の低濃度サンプルの測定が可能。 |
短所:微粒子には不向き、サンプル導入が複雑、定期的な校正が必要。 | |
超音波法 | 利点:希釈せずに高濃度スラリーの測定が可能。 |
短所:粒度分布の広い粒子に対する測定誤差、装置が高価。 |
レーザー回折・散乱法
- 利点:
- 大多数の産業用途に対して信頼性が高い。
- 測定が迅速で、再現性があり、正確で再現可能。
- 不規則および規則的な形状の粒子を測定可能。
- 粒子の密度や多孔性の影響を受けない。
- 液体、乾燥、噴霧サンプルに対応し、実験室でもオンラインでも測定可能。
- 動的画像分析と組み合わせることで、棒状粒子など、レーザーソースに対する粒子の向きに関連するサイズをより正確に測定できる。
- 制限:
- 双峰分布のピークが近接している場合、分解能が制限されることがある。
- ナノ粒子には不向き。
静的・動的画像解析法
- 利点:
- コンポーネントの交換なしで幅広いサイズ範囲をカバー。
- 形態解析が可能で、形状の特性評価に有用。
- 動的画像分析は迅速で使いやすく、液体および乾燥サンプルに対応。
- 高い再現性、再現可能性、正確性を持つ。
- 制限:
- 2μm未満の粒子には不向き。
- 動的分析においてサンプリングの影響を受けることがある。
動的光散乱法(DLS)
- 利点:
- サブミクロン粒子およびナノ粒子に最適。
- 測定が迅速で簡単。
- 小粒子に対して高い感度を持つ。
- 制限:
- 3μm以上の粒子には効果がなく、ブラウン運動の速度が低いため、沈降が優先される。
- 幅広い粒子サイズ分布には適していない。
重力沈降式
- 利点:
- ストークスの法則に基づいており、適用可能な用途において広く使用されている。
- コスト効果が高く、信頼性がある。
- 制限:
- 粒子の密度を知る必要がある。
- 低密度のエマルジョンや非常に高密度の材料には不向き。
- 2μm未満の粒子に対して効果が限られる。
コールター原理
- 利点:
- 血液細胞のサイズ測定のために開発された。
- 粒子数および体積に基づくサイズを提供。
- 単一分散サスペンションに対して良好な解像度を持つ。
- 制限:
- 異なるサンプルの測定にはオリフィスの交換が必要。
- 操作が複雑で、頻繁なキャリブレーションが必要。
光遮蔽法
- 利点:
- 清浄環境(例:製薬ラボ、シリコンチップ製造)での小さな汚染物質の測定に主に使用。
- 航空機燃料の汚染レベル測定にも使用。
- 制限:
- 低濃度の検出技術であり、高濃度サンプルには不向き。
- 定期的なキャリブレーションが必要。
ふるい法
- 利点:
- 簡単で低コスト。
- 異なるサイズ範囲の粒子を分離するのに適している。
- 制限:
- 人為的な誤差に大きく影響される。
- 38μm未満の粒子には不向き。
- 100μm未満の粒子には測定時間が長い。
スキャニング電子顕微鏡(SEM)
- 利点:
- 超微細粒子の高解像度画像を提供。
- 表面構造のある粒子のサイズ分析に正確。
- ナノ粒子を特徴付ける標準技術。
- 制限:
- 複雑なサンプル準備が必要で時間がかかる。
- 操作間のばらつきが大きく、代表性が低い。
超音波法
- 利点:
- 希釈なしで濃縮スラリーの測定が可能。
- オンライン測定にも対応。
- 制限:
- 高価な装置が必要。
- 最大13の異なるパラメータのセットアップが必要で、これらは特定が難しい場合がある。
- 幅広い粒子サイズ分布には測定誤差が生じる可能性がある。
これらの方法は、それぞれ特定の強みと制限を持っており、サンプル、用途、および測定精度に応じて粒子サイズ分析に適しています。
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