サンプルの流れは測定精度にどのような影響を与えますか？

サンプルの流れが適切でないと、粒子の計数および粒子径測定の結果に多くの影響を及ぼします。以下にその影響を詳しく説明します。

流速が低すぎる場合

粒子の重複計数：低流速では、粒子が測定ゾーンに長時間留まるため、同じ粒子を繰り返し識別することになります。これにより、計数誤差が生じ、実際の粒子数よりも多くカウントされてしまう可能性があります。
滞留時間の増加：粒子が測定ゾーンに留まる時間が長いため、粒子同士が相互作用しやすく、結果として粒子の凝集が促進されることがあります。

流速が速い場合

検出器の周波数応答の問題：高流速では、粒子が照射領域から急速に移動するため、検出器が粒子の動きを追従できず、応答が不十分になります。これにより、得られる応答信号が最大値に達せず、正確な計測が困難になります。
信号の低下：流速が速いと、パルス信号の強度が低下します。このような状況下では、粒子径計算に使用される信号が実際の粒子径を反映できなくなります。

流速限界の決定

測定誤差の評価: 光学式パーティクルカウンターの流速限界は、通常の流速と変化させた流速でのパーティクルカウンティング結果間の測定誤差が±5%に等しいときに決定されます。この測定誤差が小さいほど、装置の性能は優れているとされます。

結論

流速は粒子の計数や粒子径測定において重要な要素であり、適切な流速の維持が必要です。流速の調整により、測定精度の向上と計測結果の信頼性を確保することが可能になります。

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