光学式パーティクルカウンターで粒子数を計算し、粒子径を測定するには？

光学式パーティクルカウンティングは、消光技術とレーザー散乱技術の両方を使用します。液体中の粒子は、測定ゾーンを通過する際、レーザー光を周期的に遮ります。遮られると、消光ディテクターに影が生じ、電流が変化し、その結果、負パルスが生じます。負パルスの数と強さは、粒子の数と粒度分布を示します。小さな粒子の場合、より低い消光信号が生成されます。粒子径が1μmより小さい場合、消光シグナルは低すぎて検出できない。対照的に、レーザー光散乱法は検出器を使用して散乱光を捕捉します。レーザー光散乱は、粒子とレーザーとの相互作用によって生じる電流の変化をモニターすることで機能します。

粒子計数は、光散乱や光の遮断によって生じる正負のパルスが同時に現れて重なる位置の量を計算することから始まります。信号図のある位置で正または負のパルス信号のみが発生したとします。ここで閾値に基づき、その信号をノイズとして扱うか、有効な信号として扱うかを判断するアルゴリズムが働きます。粒子計測と同時に、1つの粒子のパルス高を検量線と比較し、粒子径を求めますが、これは一組の標準物質のパルス高に基づいて図示されています。レーザー回折式粒度分布測定とは対照的に、光学式粒度分布測定装置から得られる粒度分布は、逆アルゴリズムの代わりに検量線に依存します。

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